仪器设备
原子气相沉积仪 |
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仪器中文名 | 原子气相沉积仪 |
仪器英文名 | Atomic Layer Deposition |
型号 | TALD-100R |
制造商 | 科民 |
产地 | 中国 |
购买年份 | 2018 |
仪器负责人 | 高珍 |
可对外开放时间 | |
安放地点 | D区一层 |
所在实验室 | 分子材料与纳米加工 |
主要规格 | |
技术指标 | 1. 样品最大尺寸:4英寸(兼容2英寸); 2. 样品不均匀性:优于1.0%; 3. 载物台最高温度:400°C,控温精度±1℃; 4. 前驱体最高加热温度:200°C; 5. 带等离子增强功能,射频电源300 W; 6. 气路:O源,H2O,Al源,In源,Ga源,Zn源六路前驱体源管路; 7. 使用氮气做载气,控制载气流量10-1000 sccm; 7. 膜厚均匀性:≤±1% 8. 循环时间:<4s/cycle 9. 颗粒度:0.3 um以上颗粒增加值<30颗 |
功能 | 可用于实验室级的薄膜制备,在平面及三维结构材料上沉积致密纳米薄膜,沉积材料种类:HfO2、ZrO2、A2O3、TiO2、ZnO、MgO、SnO2、SiO2、Pt等薄膜。 |
应用范围 | 场效应晶体管介质层、high-K栅极绝缘层、铁电材料、OLED封装涂层、太阳能电池钝化层、锂离子电池、光学元件镀膜、MEMS等领域。 |
主要附件 | |
收费标准 | |
检测说明 | |
备注 |