仪器设备
X射线荧光光谱仪 |
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| 仪器中文名 | X射线荧光光谱仪 |
| 仪器英文名 | X-Ray Fluorescence Spectrometer |
| 型号 | Zetium |
| 制造商 | 帕纳科公司 |
| 产地 | 荷兰 |
| 购买年份 | 2019-01 |
| 仪器负责人 | 张莉 |
| 可对外开放时间 | 8:00-24:00 |
| 安放地点 | 化学楼B-131室 |
| 所在实验室 | 元素与定量分析 |
| 主要规格 | 采用多层膜分光晶体，优化准直器，超薄75μm铍窗，4000W端窗陶瓷X光管，PRO4高透光率的封闭正比计数器以及优化的光路配置，提高了分析元素的灵敏度，保证了测量数据的高的重现性。 |
| 技术指标 | 1KW端窗/75μm铍窗/4000W/多层膜分光晶体/优化准直器。1KW端窗，超薄75μm铍窗，最大功率4000W，多层膜分光晶体，优化准直器。分析浓度范围ppm至100%。SuperQ软件下，Omnian, Stratos等多种数据分析方法。 |
| 功能 | Zetium测量平台同时将波长色散(WD)和能量色散(ED)整合进一台仪器；同时，Zetium还拥有一个可用于快速元素分布成像的微焦斑分析工具。 |
| 应用范围 | 对固体、粉末及液体样品进行定性、定量及无标样半定量分析，可测元素范围从Na到U，测定含量范围从ppm到100%。对于纳米微米单层或多层镀膜进行厚度分析。 |
| 主要附件 | B固定道，样品前处理可能用到：熔样机、压片机等。 |
| 收费标准 | B,Na以上元素全分析?校内240，校外500 熔片价格校内240，校外500。 注意：若需要熔片请注明！ 含有单质碳和单质硅的样品会熔掉铂坩埚，如可能含有上述单质请说明（无法熔片，只能压片）。 |
| 检测说明 | 注意：若需要熔片请注明！ 1.固体样品，需要表面平整，直径在35mm以内； 2.粉末样品，需过200 目筛，压片2g，熔片0.4g，更少量的样品请与实验室联系；熔片需注明。 3.液体样品，强挥发性、腐蚀性溶剂除外，要求对麦拉膜耐受20min； 4.镀层样品，总镀层厚度小于5um，若多层镀层，每层含有不同的特征元素； 5.薄膜样品，直径大于20mm。 另：若熔片制备样品，另收取前处理费用。标准为校内240，校外500。含有单质碳和单质硅的样品会熔掉铂坩埚，如可能含有上述单质请说明（无法熔片，只能压片）。 |
| 备注 | |
