| 照片 |
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| 仪器中文名 | 近常压X射线光电子能谱仪 |
| 仪器英文名 | Near Ambient Pressure X-Ray Photoelectron Spectroscopy |
| 型号 | NAP-XPS |
| 制造商 | Specs |
| 产地 | 德国 |
| 购买年份 | 2020 |
| 仪器负责人 | 徐尧 |
| 可对外开放时间 | 全天 |
| 安放地点 | 新化学楼A122 |
| 所在实验室 |
电子能谱
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| 仪器编号 | 202010390 |
| 主要规格 |
1. Backfilling近常压分析系统(PHOIBOS150NAP, 1D-DLD);
2. 微聚焦高性能单色化Al Ka X射线源(uFOCUS600NAP);
3. 五轴样品台(XYZPAz);
4. 三路高精度自动进气及压力控制系统(1~ 25 mbar);
5. 低能小点离子源(IQ12/38:0.2 ~ 5 KV, 低/高能模式, 70 nA / 8 uA);
6. 高温高压反应室(HPC);
7. 荷电中和枪(FG22/35: 1 ~ 500 eV, < 1 mA);
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| 技术指标 |
1. 微聚焦X射线光源: 250 um(20W) ~ 1 mm(180W);
2. 光电子能量分辨: Ag3d5/2, FWHM 0.85 eV, 70 kcps (UHV), 7 kcps(10 mbar N2), 50W单色Al Ka;
2. 分析室压力范围: 5 E-9 ~ 25 mbar.
3. 样品台温度区间: 140 K ~ 1100 K, 激光加热器(~ 50 W).
4. 高温高压反应室: 800 ℃, 20 bar
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| 功能 |
1. 定性：定性检测元素周期表中除H和He以外的几乎所有元素种类及价态信息;
2. 定量：半定量，表面灵敏型测试深度小于10纳米;
3. 气氛实验：一定气氛条件下检测材料表面结构变化，捕捉表面吸附物种信息。
4. 反应监测：原位监测反应过程中气体组成及变化。
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| 应用范围 |
1、用于测量气氛条件下表面化学组成及化学态;
2、深度剖析;
3、微区定性及半定量分析;
4、样品要求：少量、干燥的粉末样品或小面积片状样品，不应含腐蚀性(酸处理后残留)、易挥发性（有异味）、磁性及放射性物质;
5、气氛要求：不能使用带腐蚀性（如NH3）或有潜在爆炸危险（如乙炔）气体。
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| 主要附件 | 1.高压催化反应室(HPC)；
2.高/低能离子刻蚀枪(IG);
3.荷电中和枪(FG);
4.残余气体分析器(RGA);
5.标准手套箱。
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| 收费标准 |
1.校内500元/时；
2.校外1000元/时；
3.常规的样品预处理及通气变温测试需要机时约10小时以上。
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| 检测说明 |
NAP-XPS相比于常规XPS仪器有一定的特殊性且操作较为复杂，为了更好地契合大家的科研需求，能谱实验室会与课题组密切配合，共同讨论、策划实验方案和测试内容并约定实验时间，课题组需指派1-2名研究生在仪器负责老师的带领下进行实验及测试，并提前预订实验所需气体，对于测试需求较多的课题组建议有相对固定人员参加仪器培训。常规的样品预处理及通气变温测试需要机时约10小时以上。
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| 备注 |
NAP-XPS仪器培训流程：
1、参训人员首先应熟悉常规X射线光电子能谱仪（XPS）基本原理和使用操作，培训及考试合格后方可参加NAP-XPS培训；
2、参训人员需对真空系统及气路搭建有一定的了解，届时需要根据实验内容准备实验气体和连接气路；
3、参训人员应至少参加三次老师指导下的NAP-XPS实验操作，经培训老师考核认可后可独立预约使用仪器，具体培训内容视实验方案而定。
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