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仪器中文名 | 透射电子显微镜 |
仪器英文名 | Transmission Electron Microscope |
型号 | JEM-2100 |
制造商 | 日本电子 |
产地 | 日本 |
购买年份 | 2009 |
仪器负责人 | 鞠晶 |
可对外开放时间 | 全天 |
安放地点 | AB23 |
所在实验室 | 电子显微镜 |
仪器编号 | |
主要规格 | 灯丝为热发射六硼化镧,高分辨物镜极靴(HR),物镜光阑为高衬度光阑。采用CCD照相。 |
技术指标 | 加速电压为200kV,点分辨率可达0.23nm,线分辨率可达0.14nm。色差系数1.1mm。放大倍数在50倍到1,500,000倍之间,放大倍率误差为小于等于±10%。 |
功能 | JEM-2100透射电子显微镜作为通用的高分辨率分析电子显微镜,可以进行各个分辨率下图像的观察,可以利用电子衍射进行晶体结构的分析,可进行冷冻电镜测试,原位液体电镜测试。 |
应用范围 | 用于化学化工、材料等领域观察物质的形貌、尺寸、分布情况以及确定晶体的结构。原位测试。 |
主要附件 | 冷冻样品杆,能谱,液体样品杆 |
收费标准 | 校内送样:800元/小时,校外送样:900元/小时,上机操作:500元/小时 |
检测说明 | |
备注 |