照片 | |
仪器中文名 | 扫描探针显微镜 |
仪器英文名 | Scan Probe Microscope |
型号 | SPI3800/SPA400 |
制造商 | 日本精工 |
产地 | |
购买年份 | |
仪器负责人 | 潘伟 |
可对外开放时间 | |
安放地点 | 新化学楼218 |
所在实验室 | 其他 |
仪器编号 | |
主要规格 | |
技术指标 | 可在大气、液体环境下具备进行 Contant Mode 或 Tapping Mode 成像等功能,最大扫描范围100微米,水平分辨率:0.1nm,纵向分辨率:0.01nm。 |
功能 | |
应用范围 | 可对固体、薄膜及液体样品进行表面表征和性能研究。 |
主要附件 | |
收费标准 | |
检测说明 | 在扫描范围内,样品的最大起伏不要超过2微米。 |
备注 |