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仪器中文名 | X射线荧光光谱仪 |
仪器英文名 | X-Ray Fluorescence Spectrometer |
型号 | Zetium |
制造商 | 帕纳科公司 |
产地 | 荷兰 |
购买年份 | 2019-01 |
仪器负责人 | 张莉 |
可对外开放时间 | 8:00-24:00 |
安放地点 | 化学楼B-131室 |
所在实验室 |
元素与定量分析
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仪器编号 | |
主要规格 |
采用多层膜分光晶体,优化准直器,超薄75μm铍窗,4000W端窗陶瓷X光管,PRO4高透光率的封闭正比计数器以及优化的光路配置,提高了分析元素的灵敏度,保证了测量数据的高的重现性。
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技术指标 |
1KW端窗/75μm铍窗/4000W/多层膜分光晶体/优化准直器。1KW端窗,超薄75μm铍窗,最大功率4000W,多层膜分光晶体,优化准直器。分析浓度范围ppm至100%。SuperQ软件下,Omnian, Stratos等多种数据分析方法。
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功能 |
Zetium测量平台同时将波长色散(WD)和能量色散(ED)整合进一台仪器;同时,Zetium还拥有一个可用于快速元素分布成像的微焦斑分析工具。
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应用范围 |
对固体、粉末及液体样品进行定性、定量及无标样半定量分析,可测元素范围从Na到U,测定含量范围从ppm到100%。对于纳米微米单层或多层镀膜进行厚度分析。
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主要附件 | B固定道,样品前处理可能用到:熔样机、压片机等。 |
收费标准 |
B,Na以上元素全分析?校内240,校外500
熔片价格校内240,校外500。
注意:若需要熔片请注明!
含有单质碳和单质硅的样品会熔掉铂坩埚,如可能含有上述单质请说明(无法熔片,只能压片)。
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检测说明 |
注意:若需要熔片请注明!
1.固体样品,需要表面平整,直径在35mm以内;
2.粉末样品,需过200 目筛,压片2g,熔片0.4g,更少量的样品请与实验室联系;熔片需注明。
3.液体样品,强挥发性、腐蚀性溶剂除外,要求对麦拉膜耐受20min;
4.镀层样品,总镀层厚度小于5um,若多层镀层,每层含有不同的特征元素;
5.薄膜样品,直径大于20mm。
另:若熔片制备样品,另收取前处理费用。标准为校内240,校外500。含有单质碳和单质硅的样品会熔掉铂坩埚,如可能含有上述单质请说明(无法熔片,只能压片)。
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备注 |
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