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仪器设备
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X射线荧光光谱仪

照片
仪器中文名X射线荧光光谱仪
仪器英文名X-Ray Fluorescence Spectrometer
型号Zetium
制造商帕纳科公司
产地荷兰
购买年份2019-01
仪器负责人张莉
可对外开放时间8:00-24:00
安放地点化学楼B-131室
所在实验室 元素与定量分析
仪器编号
主要规格 采用多层膜分光晶体,优化准直器,超薄75μm铍窗,4000W端窗陶瓷X光管,PRO4高透光率的封闭正比计数器以及优化的光路配置,提高了分析元素的灵敏度,保证了测量数据的高的重现性。
技术指标 1KW端窗/75μm铍窗/4000W/多层膜分光晶体/优化准直器。1KW端窗,超薄75μm铍窗,最大功率4000W,多层膜分光晶体,优化准直器。分析浓度范围ppm至100%。SuperQ软件下,Omnian, Stratos等多种数据分析方法。
功能 Zetium测量平台同时将波长色散(WD)和能量色散(ED)整合进一台仪器;同时,Zetium还拥有一个可用于快速元素分布成像的微焦斑分析工具。
应用范围 对固体、粉末及液体样品进行定性、定量及无标样半定量分析,可测元素范围从Na到U,测定含量范围从ppm到100%。对于纳米微米单层或多层镀膜进行厚度分析。
主要附件B固定道,样品前处理可能用到:熔样机、压片机等。
收费标准 B,Na以上元素全分析?校内240,校外500 熔片价格校内240,校外500。 注意:若需要熔片请注明! 含有单质碳和单质硅的样品会熔掉铂坩埚,如可能含有上述单质请说明(无法熔片,只能压片)。
检测说明 注意:若需要熔片请注明! 1.固体样品,需要表面平整,直径在35mm以内; 2.粉末样品,需过200 目筛,压片2g,熔片0.4g,更少量的样品请与实验室联系;熔片需注明。 3.液体样品,强挥发性、腐蚀性溶剂除外,要求对麦拉膜耐受20min; 4.镀层样品,总镀层厚度小于5um,若多层镀层,每层含有不同的特征元素; 5.薄膜样品,直径大于20mm。 另:若熔片制备样品,另收取前处理费用。标准为校内240,校外500。含有单质碳和单质硅的样品会熔掉铂坩埚,如可能含有上述单质请说明(无法熔片,只能压片)。
备注
 

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