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| 仪器中文名 | 场发射扫描电镜 |
| 仪器英文名 | Field-emission scanning electron microscope |
| 型号 | Merlin Compact |
| 制造商 | ZEISS |
| 产地 | 德国 |
| 购买年份 | 2014 |
| 仪器负责人 | 鞠晶 |
| 可对外开放时间 | 24小时 |
| 安放地点 | B-145 |
| 所在实验室 |
电子显微镜
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| 仪器编号 | |
| 主要规格 |
MERLIN Compact是一台通用的高性能场发射扫描电子显微镜，具有全自动控制的无油旋转泵+分子泵+离子泵的抽真空系统、具有专利的GEMINI镜筒技术的电子光学系统、超大样品室和五轴马达驱动优中心样品台、AsB（角度选择背散射电子探测器）、SE（样品室二次电子探测器）和In-lens DUO（镜筒内安装的二次电子探测器+背散射电子探测器）的完整的检测系统、数字图像存储与处理功能。
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| 技术指标 |
灯丝为肖特基场发射器。加速电压为0.02-30kV，30kV的分辨率可达0.8nm，放大倍数在12倍到2,000,000倍之间。
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| 功能 |
二次电子像、背散射电子像、元素分析、EBSD分析、阴极发光分析、原位测试
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| 应用范围 |
用于观察各类有机、无机、生物、复合材料的微观形貌、结构，特别适用于磁性材料的形貌观察。还可以做EDS元素含量测定、EBSD表面分析、阴极发光性质测试，原位测试。
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| 主要附件 | EDS，EBSD，CL，原位加热，原位低温 |
| 收费标准 |
校内：用户独立上机：350元/小时，送样：1000元/小时
校外：1000元/小时
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| 检测说明 |
无
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| 备注 |
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