| 照片 |
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| 仪器中文名 | 球差矫正透射电镜 |
| 仪器英文名 | Spherical Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy |
| 型号 | Themis Z |
| 制造商 | ThermoFisher Scientific |
| 产地 | 荷兰 |
| 购买年份 | 2021 |
| 仪器负责人 | 王晓鸽 |
| 可对外开放时间 | 24小时开放 |
| 安放地点 | AB21 |
| 所在实验室 |
电子显微镜
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| 仪器编号 | |
| 主要规格 |
电子枪类型：带有单色器的超稳定超高亮度肖特基场发射电子枪
束流/束斑尺寸：≥2nA @ 0.2nm；≥12.0nA @ 1nm
配备聚光镜球差校正器S-CORR，带自动四阶球差校正
集成法拉第杯，对束流实时测量和监控
最小能量分辨率：优于0.2eV @300kV，具有单色器优化设置
束斑漂移： < 0.5nm/min
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| 技术指标 |
TEM信息分辨率： 100 pm（300KV）；STEM分辨率： 60 pm（300KV）；STEM分辨率： 70 pm（200KV）；STEM分辨率： 96 pm（60KV）
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| 功能 |
探头：HAADF探头，轴向BF/DF1/DF2探头
可同时采集4x幅来自不同角度的电子信号，明场(BF)，环形明场(ABF)，环形暗场(ADF)和大角度环形暗场(HAADF)的图像
最大HAADF STEM接收角：13(半角)
微分相位衬度 STEM 技术DPC，可以实现固有磁场和电场的测量
具有轻元素成像功能iDPC，可以在低束流下观察样品并实现轻重元素同时成像
具有OptiSTEM+功能，可以自动调节STEM样品的像散和聚焦等
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| 应用范围 |
针对化学、材料学、生物学、医学、农学、地质学等学科的样品，提供形貌、微结构、化学元素等方面的分析与科学研究。
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| 主要附件 | 对称式极靴集成的四个电制冷超级能谱Super-X，无窗设计，对轻元素探测敏感；探测器面积：有效探测器面积 120mm2；固体角： 0.7 srad；能量分辨率：≤136 eV (Mn-Ka)
高倾转三维重构样品杆
直接电子探测相机 |
| 收费标准 |
1
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| 检测说明 |
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| 备注 |
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