| 照片 |
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| 仪器中文名 | 场发射高分辨透射电子显微镜 |
| 仪器英文名 | Field-emission High Resolution Transmission Electron Microscope |
| 型号 | JEM-2100F |
| 制造商 | 日本电子 |
| 产地 | 日本 |
| 购买年份 | 2009 |
| 仪器负责人 | 鞠晶 |
| 可对外开放时间 | 全天 |
| 安放地点 | AB25 |
| 所在实验室 |
电子显微镜
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| 仪器编号 | |
| 主要规格 |
该场发射电子显微镜配有能谱、STEM等附件，超高分辨物镜极靴。
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| 技术指标 |
加速电压200kV，点分辨率0.19nm,线分辨率0.1nm，STEM分辨率0.2nm,能谱能量分辨率130.8ev，放大倍数50-1500000，能谱分析元素范围5B-92U。可以进行0.2nm以上范围内的形貌、结构分析。
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| 功能 |
0.1nm以上范围内的形貌、结构、元素成份分析等。
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| 应用范围 |
0.1nm以上范围内的形貌、结构、元素成份分析等，广泛应用于物理学、化学科学、材料科学、地质等领域样品的微观组织、结构、成份等的科学研究。
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| 主要附件 | EDS， STEM，气体原位装置，冷冻样品杆，加热样品杆，热电一体样品杆。 |
| 收费标准 |
送样测试：1000-1100元/小时；上机测试：500元/小时；原位测试：1500-2000元/小时
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| 检测说明 |
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| 备注 |
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